| Strukturna in kemijska analiza nanodelcev, keramičnih in kovinskih materialov na atomski ravni (AR-STEM) | |
|---|---|
| Laboratorij | D10 |
| Oprema | Vrstična presevna elektronska mikroskopija s korektorjem Cs (STEM Jeol ARM 200 CF) |
| Področje | Strukturna in kemijska analiza |
| Platforma | Mikroskopija |
| Tehnika | Vrstična presevna elektronska mikroskopija |
| Kontakt | Goran Dražić goran.drazic(at)ki.si +386 1 4760 514, +386 1 4760 555 |
| Opis | Z vrhunsko opremo lahko določimo kristalno strukturo in kemijsko sestavo kristaliziranih anorganskih materialov na atomski ravni. Določimo lahko prisotnost različnih kristalnih defektov (dislokacije, napake zloga, vrzeli) in z energijsko spektroskopijo rentgenskih žarkov (EDS) in spektroskopijo izgub energije elektronov (EELS) lahko določimo elementno kemijsko sestavo, karto porazdelitev posamezni elementov in valenčno stanje nekaterih elementov. S posebno tehniko (tomografijo) lahko izvedemo 3D slikanje. |
Skip to main content
